Produit

AERIS
diffractomètre à rayons X

$Visuel deAERIS diffractomètre à rayons X$

Description du produit

Le diffractomètre à rayons X Aeris de PANALYTICAL® est un instrument de laboratoire innovant conçu pour offrir des performances de haute qualité dans un format compact. Grâce à sa conception avancée, Aeris permet une acquisition rapide et précise des données, comparable aux systèmes XRD de grande taille, mais dans un format de paillasse. Ce dispositif est idéal pour les environnements de laboratoire où l'espace est limité, sans compromettre la qualité des résultats.

Équipé d'un écran tactile intégré et d'un logiciel intuitif, Aeris est accessible à tous les utilisateurs, des débutants aux experts. Il simplifie le processus de collecte des données grâce à des programmes de mesure préchargés et un positionnement facile des échantillons. La conception modulaire de l'Aeris permet également des mises à niveau et des ajouts optionnels, garantissant ainsi une grande flexibilité et une tranquillité d'esprit pour l'avenir.

De plus, Aeris est compatible avec les environnements réglementés, grâce à un accès utilisateur contrôlé et un logiciel conforme aux normes 21 CFR Part 11, ce qui en fait un choix idéal pour les applications industrielles nécessitant une conformité stricte. Avec Aeris, obtenez des résultats précis et fiables en un temps record, tout en bénéficiant d'une facilité d'utilisation inégalée.

Caractéristiques générales

Caractéristique	Valeur
Alimentation électrique	100 – 240 V
Dimensions	690 mm x 770 mm x 786 mm
Dimensions (H x L x P)	690 mm x 770 mm x 786 mm
Incrément minimal 2Thêta	0,001°
Interface utilisateur	Écran tactile 10,4 po
Plage 2 maximale	-4° à 142°
Rayon goniomètre	145 mm
Résolution 2Thêta	<0,04°
Temps de résultat	5 min
Temps de résultats	5 min
Vitesse de balayage	2,17°/s

Actualités autour du AERIS :

MALVERN PANALYTICAL SARL

a ajouté un article où est cité AERIS

Le 24/10/2024

Techniques de caractérisation des nanoparticules et révolution en nanotechnologie

Le 24/10/2024

La nanotechnologie, secteur en pleine expansion, repose sur la manipulation de la matière à l'échelle nanométrique, généralement entre 1 et 100 nanomètres. La caractérisation des nanoparticules est essentielle pour comprendre et contrôler leurs propriétés uniques, qui se manifestent à cette échelle réduite. Cet article vise à présenter les défis associés à la caractérisation des nanoparticules et à discuter des techniques avancées utilisées pour répondre à ces défis, en mettant en lumière l'importance de ce domaine dans l'avancement des nanotechnologies.

MALVERN PANALYTICAL SARL

a ajouté un article où est cité AERIS

Le 05/06/2024

Identification des phases cristallines et leur impact sur la stabilité des matériaux

Le 05/06/2024

L'identification des phases cristallines au sein des matériaux joue un rôle prépondérant dans la détermination de leurs propriétés physiques et chimiques. L'objectif de cet article est de discuter l'importance de l'analyse des phases cristallines pour la prédiction de la stabilité et la performance des matériaux, en soulignant les défis et les enjeux associés à cette tâche. Nous évoquerons également le contexte dans lequel ces analyses sont cruciales pour diverses industries et les problèmes susceptibles de survenir sans une caractérisation adéquate.