Brochuire - Epsilon 1 Recherche et enseignement

EPSILON@e?s`1 ACADEMIA XRF entre les mains des scientifiques 23 Vous cherchez un moyen simple et adaptable à une grande variété d'échantillons pour la recherche et l’enseignement? !09?1 9B!?a (0!7" 7?A? 5!G(p P ?xM ?a)? (c?. ?6V? 3A`M #wt'D ?&?N $Q
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eYC E4?! %S? RFsM 9(8?` )I?p 6C9?t ?? 1PeE
0qD8t BsaFM LA SOLUTION COMPLÈTE CONSISTE EN ?HD? % A? ?t? ?HD? % A? %Bw? ?HD? # ?HD? % A? ?RWim b?v?- RECHERCHE ET ENSEIGNEMENT Analyse élémentaire flexible Échantillon de validation Outil d’assemblage Cellules jetables Films pour la cellule 2 4 Préparation d’échantillon simplifiée Simple à utiliser PRÊT POUR TOUS TYPES D"taÉCHANTILLON 5Y?72 5s) 4x? &???/ VISUALISATION PRATIQUE DES RÉSULTATS MESURER EN DIFFÉRENTES LANGUES '7( ia?q 2?g$U s?8v Measure ?? Mesurer Messung Mesure B$?P Medida qY?) Médir 1u4P` 3 2 hWu0 4bH? ??!3 !4`? A?M 4?2 9?B?D 6?F? E??`? 6 CARACTÉRISTIQUES L’Epsilon 1 est un analyseur XRF dispersif en énergie entièrement autonome comprenant un spectromètre, un ordinateur intégré avec le logiciel d'analyse. Conçu avec les dernières avancées technologiques en terme d’excitation et de détection, Epsilon 1 est la star dans la catégorie des spectromètres de table à faible coût. Un chemin optique 1Pd détecteur SDD très sensible et résolutif contribuent à rendre Epsilon 1 unique en son genre. Système autonome ?S?? 1?U33 p?v ?ttC 2dabilit$4?%ong terme 6Xr?M ?C d 8?Tis Sensibilit9?? maximale 2??0g B"?`  "Dv?? 'sqyq (hUq? #7??s "??uq 9x#R? Protection anti-déversement 2pc? w` V?? Faible encombrement u`?v  Cm !?b?? 2SQB Facilit9?? d’utilisation 1UtM g6U? Dynamisez vos présentations ?ct? %DD? BEt? 9?I1 Excellente précision %wE 6?(9? 0b2- 4!6? ax'm 5sHGq "u?g Variations atmosphériques 3?? Ba
? x?i` 42`&Q '40c h%?" Positionnement de l’échantillon IV? &??B Sécurité garantie $SY? csM rwc gq?- )?4 H Na K Rb Fr Li He Ne Ar Kr Xe Cs Ra Ba Be Mg Ca Sr Sc Y Ti Zr V Nb Cr Mo Mn T c Fe Ru Co Rh Ni Pd Cu Ag Zn Cd I Te Ga Ge As Se Br Al Si P S Cl B C N O F In Sn Sb Rn At Po Bi Pb Tl Hg Au Pt Ir Os Re W Ta Hf La Ce Pr Nd Pm Sm Eu Gd Tb Dy Ho Er Tm Yb Lu Ac Th Pa U Lr No Md Fm Es Cf Bk Cm Rg Ds Mt Hs Bh Sg Db Rf Am Pu Np Z Z 1 1.008 11 22.990 19 39.098 37 85.47 87 (223) 3 6.941 2 4.003 10 20.180 18 39.948 36 83.80 54 131.29 55 132.905 88 226.02 56 137.33 4 9.012 12 24.31 20 40.08 38 87.62 21 44.96 39 88.906 22 47.88 40 91.22 23 50.94 41 92.91 24 52.00 42 95.94 25 54.94 43 (98) 26 55.85 44 101.1 27 58.93 45 102.95 28 58.69 46 106.4 29 63.55 47 107.87 30 65.39 48 112.41 53 126.90 52 127.60 31 69.72 32 72.61 33 74.92 34 78.96 35 79.904 13 26.98 14 28.09 15 30.974 16 32.066 17 35.453 5 10.81 6 12.011 7 14.007 8 15.999 9 18.998 49 114.82 50 118.71 51 121.75 86 (222) 85 (210) 84 (209) 83 208.98 82 207.21 81 204.38 80 200.59 79 196.97 78 195.08 77 192.2 76 190.2 75 186.2 74 183.85 73 180.95 72 178.49 57138.91 58 140.12 59 140.91 60 144.24 61 (145) 62 150.36 63 151.97 64 157.25 65 158.93 66 162.50 67 164.93 68 167.26 69 168.96 70 173.04 71 174.97 89 (227) 90 232.04 91 231.04 92 238.03 103 (260) 102 (259) 101 (258) 100 (257) 99 (252) 98 (251) 97 (247) 96 (247) 111 (281) 110 (281) 109 (278) 108 (270) 107 (270) 106 (269) 105 (270) 104 (267) Og Ts Lv Mc Fl Nh Cn 118 (294) 117 (293) 116 (293) 115 (289) 114 (289) 113 (286) 112 (285) 95 (243) 94 (244) 93 237.05 L A L A Peut-?tre analysé à l'aide de l'Epsilon 1 Ne peut pas ?tre analysé à l'aide de l'Epsilon 1 AVANTAGES DE LA XRF ?HD? % A? 7sb! comparées aux autres techniques. &0e? ?HD? % A? $iRf rapide et sans danger. #i"` ?HD? % A? c9?M d’analyse (ppm – %) réduisant le besoin de dilution et les erreurs associées. 9 (x ? QUANTIFICATION'&0u2 LA FOIS ROBUSTE ET FLEXIBLE DE TOUS TYPES D"taÉCHANTILLON Pour la caractérisation et l'analyse des échantillons dont la composition est inconnue, ou dans des "RT?? correspondance avec l'échantillon inconnu, le logiciel Omnian de Malvern Panalytical est une solution idéale h?s?m 0(x'D 0#i0 ??" w?ff 9? Acier faiblement allié ?HD? ?v4 ?HD? % A?6??8a sDp Élément 4fQsh (%) Conc. mesurée (%) Si  ?1P rDI? P "w"?? "w"XUDg S 8A
hBBuU? EY`5?wr V ?%h C?dYM Cr 9?f?A 8ufPP Mn @!v ? @r(5 Ni Bv? ? #e?s Cu @r(5 C?dYM Mo bf? gt? PolyéthylbB' ?HD? 6 " ?HD? % A?6 `(! !X@?@ 2A!P@ #??5 Élément 4fQsh (ppm) Conc. mesurée (ppm) Ru 1@??a 1@??a Rh 1@??a P?? Pd 1@??a h4? Ir 1@??a 9E??? Pt 1@??a & fi4 7hqf Analyses Réussite/Échec FINGERPRINT 8 ? 7#s9@ 3Yda ?a56 ?Q . 65?? 3)?Ue ?b ipXm 5gA( 4??/ 4E?3V  ?5 vtfE iy?`` Gxc?r&? 
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?t (fbT !?d@4 C? #d6 B0(?? 60V M (?A PERFECTIONNEZ VOS RECHERCHES AVANTAGES D"taOMNIAN Le bon résultat à chaque instant ?HD? % A?% A?#V
g résultats robustes ?HD? % A? !&Xrc tous les échantillons en utilisant le paramétrage par défaut ?HD? % A? gWD détection grâce à l’ajout d’échantillon adaptatif à la caractérisation et les mesures de pics sélectionnés Facile à utiliser ?HD? % A?'??f utilisation avancée II3m Puissance analytique pour vos défis complexes d’analyse aPf 8  @fAR? 13gGp 9?"A tDM FINGERPRINT STRATOS ?sIP &FC?t )Re% A? EF1?-% A?Q@!
2` Q 7D?SO 32N Analyses multicouches MODULE STRATOS !&?D0 www.malvernpanalytical.com/epsilon1 ?35p x?? (
c?? 8C?? "#E 8?C? PN11900_FR Grovewood Road, Malvern, Worcestershire, WR14 1XZ, Royaume-Uni 3?g 3X"DLelyweg 1, 5 yR? Pays-Bas B2D @ ?2 info@malvernpanalytical.com www.malvernpanalytical.com MAL POURQUOI MAL ? B Ut support qu’il vous faut pour améliorer le fonctionnement de vos processus analytiques aux niveaux les plus élevés. Nous vous aidons à améliorer le rendement !x%'a nécessaire tout au long de la croissance de votre laboratoire et de vos besoins en matière d’analyses. Notre équipe internationale de spécialistes contribue à l’optimisation de vos procédés en assurant l’expertise des applications, des délais de réponse rapides et un rendement optimal de votre instrument. ?HD? Support local et à distance ?HD? H? ?HD? Support en matière de conformité et de validation ?HD? Cours de formation sur site ou donnés en classe ?HD? Cours de formation de type e-learning et séminaires Web ?HD? Programmes d’expertise personnalisable Leader mondial en matière de caractérisation de matériaux, nous développons des solutions optimisées et des services orientés client qui offrent un impact économique tangible dans le domaine de l’analyse physique, chimique et structurale des matériaux. Notre objectif consiste à vous aider à concevoir des produits de meilleure qualité et à les commercialiser plus rapidement. Nos solutions soutiennent la recherche et contribuent à optimiser la productivité et l’efficacité des processus. Malvern Panalytical fait partie du groupe Spectris, un groupe spécialisé dans les contr?les et l’instrumentation visant à améliorer la productivité. www.spectris.com SERVICESUPPORT